Анализ и синтез маршевых тестов запоминающих устройств запоминающих ячеек, участвующих в
неисправности. Обосновывается необходимость синтеза маршевых тестов
Псевдоисчерпывающее тестирование запоминающих устройств на базе маршевых тестов типа March A тестов. Выделяются многократные маршевые тесты, позволяющие обнаруживать сложные
кодочувствительные Построение и применение маршевых тестов для обнаружения кодочувствительных неисправностей запоминающих устройств кодочувствительные неисправности (PNPSFk), в которых участвуют произвольные k из N ячеек памяти, где k << N, а N
Определение труднообнаружимых неисправностей комбинационных схем Pth. Вычисление вероятности обнаружения
неисправности выполняется ранее предложенным методом
Построение всех тестовых наборов, обнаруживающих константные неисправности литер ЭНФПостроение всех тестовых наборов, обнаруживающих константные
неисправности литер ЭНФ