Дата публикации: 2021

Дата публикации в реестре: 2022-10-06T16:31:39Z

Аннотация:

Статья посвящена обнаружению кодочувствительных неисправностей запоминающих элементов. В тексте рассмотрены тенденции развития запоминающих устройств и современные проблемы тестирования, приведена обобщенная схема системы памяти, классификация моделей неисправностей и используемый подход к тестированию. Статья содержит результаты обнаружения кодочувствительных неисправностей некоторыми маршевыми тестами и их анализ.

Тип: Статья