Модернизация метода тестирования мощной интегральной микросхемы или полупроводникового прибора в диапазоне температур

Ефименко, С. А.; Кособуцкая, Н. В.; Efimenko, S. A.; Kosobutskaya, N. V.

Модернизация метода тестирования мощной интегральной микросхемы или полупроводникового прибора в диапазоне температур

Ефименко, С. А., Кособуцкая, Н. В., Efimenko, S. A., Kosobutskaya, N. V.

Дата публикации: 2021

Дата публикации в реестре: 2024-03-01T13:26:00Z

Аннотация:

Тестирование - это измерение электрических параметров микросхем и полупроводниковых приборов и проведение функционального контроля микросхем. Поскольку мощные микросхемы и полупроводниковые приборы являются тепловыделяющими, их тестирование должно проводиться с учетом перегрева кристалла. В работе рассмотрены возможные способы их тестирования, в том числе учитывающие перегрев кристалла.

Ключевые слова:
публикации ученых, полупроводниковые приборы, микросхемы, тестирование, semiconductor devices, microcircuits, testing

Тип: Статья