Поиск

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

Автор

Ключевое слово

Тип статьи

DOI

ORCID

Дополнительно:

Период публикации

Репозиторий

По вашему запросу найдено документов: 48

Страница 1 из 5

Анализ механизмов нарушающих функционирование микросхем

Даниленко, А. В., Danilenka, A. V.

Analysis of mechanisms disturing the functioning of microcircuits

Решение проблемы отвода тепла при корпусировании полупроводниковых приборов и микросхем

Герман, Е. В., Гармилин, Е. В., Herman, Y. V., Harmilin, Y. V.

Solution of the problem of heat removal in the enclosure semiconductor devices and microcircuits

Информационно-параметрические методы совершенствования технологии производства субмикронных интегральных микросхем с применением тестовых структур

Емельянов, А. В., Ymel’yanov, A. V.

operating parameters of submicron microcircuits in their manufacture stages under the conditions of mass

Reliability Assessment of the Nano-dimensional Dielectrics of the Submicron Microcircuits

Solodukha, V. A., Shvedov, S. V., Chyhir, R. R., Petlitsky, A. N., Filipenya, V. A.

Reliability Assessment of the Nano-dimensional Dielectrics of the Submicron Microcircuits

Тонкопленочные микросхемы на основе алюминия и его оксидов для криогенных температур

Короткевич, А. В., Korotkevich, A. V.

Thin-film micro-circuits based on aluminum and it's oxides for cryogenic temperatures

Universal charging the device for Li-ion accumulators

Карлащук В.И.

an integrated microcircuit

Модернизация метода тестирования мощной интегральной микросхемы или полупроводникового прибора в диапазоне температур

Ефименко, С. А., Кособуцкая, Н. В., Efimenko, S. A., Kosobutskaya, N. V.

microcircuits

Измерение тепловых сопротивлений силовых полупроводниковых приборов

Герман, Е. В., Гармилин, Е. В., Herman, Y. V., Harmilin, Y. V.

integrated microcircuits

АНАЛИЗ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ КИТАЯ В УСЛОВИЯХ ГЛОБАЛЬНОЙ ПОЛИТИЧЕСКОЙ НАПРЯЖЕННОСТИ

Чжан Пэн

microcircuits

Информационно-параметрические методы совершенствования технологии производства субмикронных интегральных микросхем с применением тестовых структур

Емельянов, А. В.

operating parameters of submicron microcircuits in their manufacture stages under the conditions of mass

Страница 1 из 5