В статье показывается актуальность тестирования запоминающих устройств современных вычислительных систем. Представляются математические модели неисправностей запоминающих устройств и эффективность их обнаружения, в частности, сложных кодочувствительных неисправностей типа PNPSFk, на базе классических маршевых тестов. Приводятся предельные оценки полноты покрытия подобных неисправностей в зависимости от количества запоминающих ячеек, участвующих в неисправности. Обосновывается необходимость синтеза маршевых тестов, характеризующихся высокой эффективностью обнаружения PNPSFk неисправностей. Определяется понятие примитива, обеспечивающего условия активизации и обнаружения различных видов PNPSFk. Приводятся примеры анализа и синтеза маршевых тестов, имеющих различную полноту покрытия PNPSFk неисправностей. Синтезируется маршевый тест March OP, характеризующийся максимальной полнотой покрытия.
