Материалов:
1 082 141

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

По вашему запросу найдено документов: 163018

Страница 1 из 16302

Prediction in Big Data Technology
Borovikov, S. M., Shneiderov, E., Tsyrelchuk, N. I., Dzik, S. S.
Models describing the degradation of functional parameters of electronic devices based on the Weibull-Gnedenko distribution
Borovikov, S. M., Shneiderov, E. N., Burak, I. A., Боровиков, С. М., Шнейдеров, Е. Н., Бурак, И. А.
Reliability Prediction of Electroniс Devices, Considering the Gradual Failures
Borovikov, S. M., Shneiderov, E. N., Боровиков, С. М., Шнейдеров, Е.Н.
Experience of distance education of us students at the branch of the design of information computer systems department
Batura, M. P., Zibitsker, E., Dzik, S. К., Tsyrelchuk, I. N., Shneiderov, E. N., Батура, М. П., Зибицкер, Э., Дик, С. К., Цырельчук, И. Н., Шнейдеров, Е. Н.
Models describing the degradation of functional parameters of electronic devices based on the Weibull–Gnedenko distribution
Borovikov, S. M., Shneiderov, E. N., Burak, I. A., Боровиков, С. М., Шнейдеров, Е. Н., Бурак, И. А.
Software for predicting the reliability of the electronic system by its technical states set analysis method
Tsyrelchuk, N. I., Dzik, S. S., Borovikov, S. M., Tsyrelchuk, I. N., Kaziuchyts, V. O., Zhidiliaeva, N. I., Shneiderov, E. N., Цырельчук, Н. И., Дик, С. С., Боровиков, С. М., Цырельчук, И. Н., Казючиц, В. О., Жидиляева, Н. И., Шнейдеров, Е. Н.
Прогнозирование надежности изделий электронной техники на основе математической модели деградации функционального параметра
Боровиков, С. М., Шалак, А. В., Бересневич, А. И., Емельянов, А. В., Шнейдеров, Е. Н., Borovikov, S. M., Shalak, A. V., Berasnevich, A. I., Emelyanov, A. V., Shneiderov, E. N.
Корреляционный анализ в решении задачи поиска информативных параметров транзисторов большой мощности
Казючиц, В. О., Шнейдеров, Е. Н., Kaziuchyts, V. O., Shneiderov, E. N.
Прогнозирование энергетических характеристик фотоэлектрических станций методами обучения деревьев решений
Хорошко, В. В., Аксенов, О. Д., Осмоловская, Т. Н., Шнейдеров, Е. Н., Бруй, Н. М., Khoroshko, V. V., Aksynov, O. A., Osmolovskaya, T. N., Shneiderov, E. N., Bruj, N. M.
Экспериментальное исследование деградации изделий электронной техники
Боровиков, С. М., Шнейдеров, Е. Н., Плебанович, В. И., Бересневич, А. И., Бурак, И. А., Borovikov, S. M., Shneiderov, E. N., Plebanovich, V. I., Berasnevich, A. I., Burak, I. A.

Страница 1 из 16302

Фасеты

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core