Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

По вашему запросу найдено документов: 40155

Страница 1 из 4016

Проблема отвода тепла силовых полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Гармилин, Е. В., Рыляков, А. В., Герман, Е. В., Harmilin, Y. V., Ryliakou, A. V., Herman, Y. V.
with the problem of heat removal from semiconductor devices and integrated circuits. Basic formulas for calculating
Прогнозирование времени хранения информации после отключения питания для интегральных микросхем энергонезависимой памяти
Плебанович, В. И., Боровиков, С. М., Шнейдеров, Е. Н., Бурак, И. А., Plebanovich, V. I., Borovikov, S. M., Shneiderov, E. N., Burak, I. A.
время хранения информации после отключения питания.For crystals of EEPROM integrated circuits (ICs) a
Обзор методов компьютерного проектирования силовых интегральных микросхем в условиях воздействия электростатического разряда
Алексеев, В. Ф., Пискун, Г. А., Сыс, А. Д.
power integrated circuits
Влияние теплового режима на надежность и параметры полупроводниковых и интегральных схем приборов
Атаев, А., Ataev, A.
диэлектрической жидкости и тепловых труб.The cooling systems for semiconductor integrated circuits
Modeling of Vacuum Circuit Breaker Deterioration Process
Tolstoguzov, Y., Krotenok, V.
Modeling of Vacuum Circuit Breaker Deterioration Process
Artificial Intelligence Development: Implications for China
Reshetnikova M.S., Mikhaylov I.A.
technologies to manufacture integrated circuits (ICs) and the production capabilities of the Chinese AI
Исследование влияния радиопомех на динамические параметры логических элементов
Титович, Н. А., Titovich, N. A.
to the circuit of the ring generator. Interference effects were carried out using a TEM-camera, as well as using
Thermal conductivity influence on failures of semiconductor IСs under powerful EMP action
Zhuravliov, V. I., Alexeev, V. F., Журавлев, В. И., Алексеев, В. Ф.
Thermal transfer in semiconductor integrated circuits under external HEMP action is considered
Модернизация метода тестирования мощной интегральной микросхемы или полупроводникового прибора в диапазоне температур
Ефименко, С. А., Кособуцкая, Н. В.
Modernization of the method of testing a powerful integrated circuit or semiconductor device
Усилители мощности на транзисторах и интегральных микросхемах
Радиминович, П. С., Блоцкий, В. А., Гончарова, А. В.
Power amplifiers on transistors and integrated circuits

Страница 1 из 4016

Фасеты

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core