Оценка надежности полупроводниковых приборовВ работе рассматривается подход к оценке надёжности
полупроводниковых приборов на основе
Дефекты полупроводниковых приборов, вызванные воздействием ЭМИВыявление причин неработоспособности
полупроводниковых приборов (ППП) связано с необходимостью
Физика полупроводниковых приборов : Учебное пособие для вузовФизика
полупроводниковых приборов : Учебное пособие для вузов