Статистическое прогнозирование для отбраковки потенциально ненадёжных изделий электронной техники прогнозирования
надёжности изделий электронной техники, предложены и исследованы новые методы, позволяющие более
Определение информативных параметров методом корреляционного анализаДля индивидуального прогнозирования
надежности полупроводниковых приборов большой мощности