Детектирование дефектов пленок SiO₂ холестерическими жидкими кристалламиРассмотрена возможность регистрации дефектов
пленки окиси кремния на кремнии с помощью нескольких
Лазерное напыление тонких пленок фталоцианина меди тонкие
пленки фталоцианина меди, структура и электрофизические свойства которых аналогичны, сенсорные
НОВЫЕ ПЛЁНКИ НА ОСНОВЕ ХИТОЗАНА И КОБАЛЬТА (II)НОВЫЕ
ПЛЁНКИ НА ОСНОВЕ ХИТОЗАНА И КОБАЛЬТА (II)