Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

По вашему запросу найдено документов: 300

Страница 12 из 30

Homogeneous deposition of nickel in pores of the ordered thin aluminum oxide
Utkina, E. A., Vorob’eva, A. I., Komar, O. M.
Symbolic tensor differentiation for applications in machine learning
Zhabinski, A., Zhabinskii, S., Adzinets, D. N., Жабинский, А. В., Жабинский, С. В., Одинец, Д. Н.
Studying the Thermodynamic Properties of Composite Magnetic Material Based on Anodic Alumina
Vorobjova, A. I., Shimanovich, D. L., Sycheva, O. A., Ezovitova, T. I., Tishkevich, D. I., Trykhanov, A. V., Шиманович, Д. Л.
Разработка технологических процессов создания солнечных элементов с контактами на основе силицида никеля
Коробко, А. О., Соловьёв, Я. А., Кайдов, О. Л., Глухманчук, В. В., Достанко, А. П., Karabko, А. О., Soloviev, Y. A., Kaidov, O. L., Gluchmanchuk, V. V., Dostanko, A. P.
in microelectronics. The obtained efficiency of solar cells based on such technology is 8%, which correlates
Анализ условий возбуждения свч-разряда низкого вакуума в плазмотроне резонаторного типа
Мадвейко, С. И., Бордусов, С. В., Лушакова, М. С.
in the microelectronics technology has been evaluated. The results showed that the value of electric field
Сравнительная оценка альтернативных методов контроля качества и диагностики монтажных конструкций «п/п кристалл – подложка»
Волкенштейн, С. С., Дайняк, И. В., Хмыль, А. А., Wolkenstein, S. S., Dayniak, I. V., Khmyl, A. A.
operational reliability of prefabricated production of electronic technics and microelectronics
FMR studies of CrO2 epitaxial thin films
Rameev B., Yilgin R., Aktaş B., Gupta A., Tagirov L.
Synthesis of porous silicon with silver nanoparticles by low-energy ion implantation
Batalov R., Valeev V., Nuzhdin V., Vorebev V., Osin Y., Lebedev D., Bukharaev A., Stepanov A.
On the Construction of Neuromorphic Fault Dictionaries for Analog Integrated Circuits
Mosin S.
YB 3+ /ER 3+− CODOPED GEO 2 –PBO–PBF 2 GLASS CERAMICS FOR RATIOMETRIC UPCONVERSION TEMPERATURE SENSING BASED ON THERMALLY AND NON-THERMALLY COUPLED LEVELS
KALINICHEV, A.A., KUROCHKIN, M.A., KOLOMYTSEV, A.Y., KOLESNIKOV, I.E., KHASBIEVA, R.S., KOLESNIKOV, E.Y., LÄHDERANTA, E.
of the microelectronic component on the printed circuit board was defined using the optical thermometry as a proof

Страница 12 из 30

Фасеты

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core