Материалов:
1 005 021

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

По вашему запросу найдено документов: 679

Страница 2 из 68

Ab initio и экспериментальное исследование электронных и оптических свойств GaInS3
Джахангирли, Закир Агасолтан оглы, Амирасланов, Имамаддин Раджабали оглы, Рахимли, Айсел Бахтияр кызы, Сеидов, Рамиз Гекджа, Байрамова, Тунзале Октай кызы
спектральная эллипсометрия
Spectral Ellipsometry as a Method of Investigation of Influence of Rapid Thermal Processing of Silicon Wafers on their Optical Characteristics
Solodukha, V. A., Pilipenko, U. A., Omelchenko, A. A., Shestovski, D. V.
Спектральная эллипсометрия как метод изучения влияния быстрой термообработки кремниевых пластин на
Оптические характеристики отожженных пленок титаната бария, сформированных золь-гель методом
Стаськов, Н. И., Сотский, А. Б., Михеев, С. С., Гапоненко, Н. В., Холов, П. А., Райченок, Т. Ф., Staskov, N. I., Sotsky, A. B., Miheev, S. S., Gaponenko, N. V., Kholov, P. A., Raichenok, T. F.
спектральная эллипсометрия
Эллипсометрия тонких двухслойных покрытий на металлической подложке
Рыбалка, А.И., Шкляревский, И.Н.
Эллипсометрия тонких двухслойных покрытий на металлической подложке
Учёт влияния естественного поверхностного слоя при исследовании кремниевых пластин методом спектральной эллипсометрии
Стаськов, Н.И., Ивашкевич, И.В., Сотский, А.Б., Сотская, Л.И.
сектральная эллипсометрия
Организационные аспекты дополнительной подготовки студентов для исследований земли из космоса
Гаврилович, А. Б., Кирик-Малько, Е. О.
эллипсометрия
Изучение морфологии и оптических свойств анодных оксидных слоев на InAs(111)A
Кручинин, Владимир Николаевич, Терещенко, Олег Евгеньевич, Кожухов, А. С., Левцова, Т. А., Рыхлицкий, С. В., Щеглов, Дмитрий Владимирович, Валишева, Наталья Александровна
Эллипсометрия
Stokes-correlometry analysis of biological tissues with polycrystalline structure
Ushenko, Alexander G., Sdobnov, Anton Yu., Dubolazov, Alexander V., Gritsuk, Marta, Ushenko, Yurii A., Bykov, Alexander V., Meglinski, Igor V.
Эллипсометрия
Расчет профилей состава квантовых структур (HgTe-Hg1-xCdxTe)n в процессе их роста методом in situ эллипсометрии
Швец, Василий Александрович, Дворецкий, Сергей Алексеевич, Михайлов, Николай Николаевич, Икусов, Данил Геннадьевич, Ужаков, Иван Николаевич
Эллипсометрия
Выращивание и оптические параметры кристаллов GaSe:Te
Саркисов, Сергей Юрьевич, Атучин, Виктор Валерьевич, Гаврилова, Татьяна Александровна, Кручинин, Владимир Николаевич, Березная, Светлана Александровна, Коротченко, Зоя Владимировна, Толбанов, Олег Петрович, Чернышов, Андрей Иванович
эллипсометрия

Страница 2 из 68

Фасеты

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core