Отражательно-абсорбционная ИК Фурье-спектроскопия фоторезистивных плёнок на кремнииБринкевич, Д. И.,
Гринюк, Е. В.,
Просолович, В. С.,
Бринкевич, С. Д.,
Колос, В. В.,
Зубова, О. А. использованием заводской приставки
диффузного отражения DRIFT ИК-спектрофотометра ALPHA и метода нарушенного
Коллапс резонансов в сверхрешеткахИсследовано явление
отражения электронной волны при резонансном прохождении через периодические
Морфология поверхности, оптические и электрофизические свойства пленок ванадата иттрия YVO[4]Босак, Н. А.,
Чумаков, А. Н.,
Баран, Л. В.,
Малютина-Бронская, В. В.,
Райченок, Т. Ф.,
Иванов, А. А.,
Кирис, В. В.,
Дятлова, Евгения Михайловна,
Шевченок, А. А.,
Бука, Алексей Валентинович,
Кузьмицкая, А. С. . Методом атомно-силовой микроскопии изучена морфология тонких пленок YVO[4]. Получены
спектры пропускания