Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

По вашему запросу найдено документов: 4790

Страница 8 из 479

Оценка точности градиентной волновой сегментации АСМ-изображений
Рабцевич, В. В., Цветков, В. Ю.
атомно-силовая микроскопия
Микроструктурный анализ быстрозатвердевших фольг сплава Al–Mg–Cu–Mn–Fe
Столяр, И. А., Ташлыкова-Бушкевич, И. И., Шепелевич, В.Г., Wu, R.
атомно-силовая микроскопия
Морфологическая характеристика кутикулы нематод при помощи атомно-силовой микроскопии
Ахатова Фарида Сериковна, Нигаматзянова Ляйсан Рафисовна, Фахруллина Гульнур Ильдаровна, Науменко Екатерина Анатольевна, Фахруллин Равиль Фаридович
атомно-силовая микросокпия
Анализ шероховатости поверхности целлюлозно-бумажных материалов прямым и косвенным методами
Михалева, Мария Геннадьевна, Втюрина, Дарья Николаевна, Сарвадий, Сергей Юрьевич, Никольский, Сергей Николаевич, Стовбун, Сергей Витальевич, Жолнерович, Наталья Викторовна, Герман, Наталия Александровна, Николайчик, Ирина Владимировна
, полиграфические издания). Данный показатель измеряли прямым (атомно-силовая микроскопия) и косвенным методами
Исследование наноразмерных пленок серебра методом атомно-силовой микроскопии
Журавский, Д. В., Здыренкова, Т. В., Рядов, Μ. H., Снохин, Г. А., Zhuravsky, D. V., Zdyrenkova, T. V., Ryadov, Μ. H., Snokhin, G. A.
атомно-силовая микроскопия
Изучение морфологии и фрактальный анализ начальных стадий роста вакуумных покрытий ПТФЭ
Казаченко, В. П., Киселевский, О. С., Егоров, А. И., Kazachenko, V. P., Kisilevskii, O. S., Egorov, A. I.
атомно-силовая микроскопия
Нелинейная зависимость высоты барьера от смещения и природа аномалий характеристик контактов с барьером Шоттки : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.10.
Шмаргунов, Антон Владимирович, Божков, Владимир Григорьевич (научный руководитель)
атомно-силовая микроскопия
Влияние УФ-излучения на поверхностные процессы монокристаллов антрацена
Копылова, Татьяна Николаевна, Ивонин, Иван Варфоломеевич, Гадиров, Руслан Магомедтахирович, Терещенко, Евгений Васильевич, Солодова, Татьяна Александровна, Карева, Катерина Валерьевна, Новиков, Вадим Александрович
атомно-силовая микроскопия
Морфология поверхности и кристаллографические свойства пленок GaAs, выращенных методом МЛЭ на вицинальных подложках Si(001)
Коханенко, Андрей Павлович, Пчеляков, Олег Петрович, Лошкарев, Иван Дмитриевич, Селезнев, Владимир Александрович, Путято, Михаил Альбертович, Семягин, Борис Рэмович, Преображенский, Валерий Владимирович, Zhicuan, Niu, Haiqiao, Ni, Емельянов, Евгений Александрович
атомно-силовая микроскопия
Комплекс для неразрушающего контроля субмикронной топологии кремниевых пластин при производстве интегральных микросхем
Чижик, С. А., Басалаев, С. П., Пилипенко, В. А., Худолей, А. Л., Кузнецова, Т. А., Чикунов, В. В., Суслов, А. А.
Оптическая и атомно-силовая микроскопия

Страница 8 из 479

Фасеты

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core