Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

По вашему запросу найдено документов: 233

Страница 2 из 24

Оценка качества комбинированных АСМ-изображений на основе локальной корреляционной метрики
Левоненко, И. И., Ловецкий, М. Ю.
атомные микроскопы
Уровневые модели и волновые алгоритмы сегментации АСМ-изображений
Рабцевич, В. В., Цветков, В. Ю.
микроскопы
Оптическая система ГУФ диапазона для инспекционного микроскопа
Сербин, И. Н., Serbin, I. N.
оптические микроскопы
Туннельные диоды – элементы СВЧ-электронных схем
Сукасян, Л. Э., Сычик, В. А.
Туннельные диоды – элементы СВЧ-электронных схем
Туннельные процессы и ассоциация донорных и акцепторных центров в вольфрамате кальция
Капленов, И.Г., Кронгуаз, В.Г., Колесниченко, Б.А.
Туннельные процессы и ассоциация донорных и акцепторных центров в вольфрамате кальция
Видеоизмерительные микроскопы
Москаленко, И. А., Зайцев, М. В., Кузнечик, В. О.
Видеоизмерительные микроскопы
Туннельные явления в напряженных вюртцитных гетероструктурах с сильными встроенными полями : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.10; 01.04.02.
Разжувалов, Александр Николаевич
Туннельные явления в напряженных вюртцитных гетероструктурах с сильными встроенными полями
Туннельные характеристики контакта металл – нефермиевская жидкость и ADS/CFT-соответствие
Конобеева, Наталия Николаевна, Белоненко, Михаил Борисович
Туннельные характеристики контакта металл – нефермиевская жидкость и ADS/CFT-соответствие
Ионно-лучевые технологии как средство анализа топологии интегральной микросхемы (ИМС)
Кабак, Т. В.
ионные микроскопы
Анализ топологии фрагмента сечения интегральной микросхемы (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком
Кабак, Т. В.
ионные микроскопы

Страница 2 из 24

Фасеты

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core