Исследование поверхностного потенциала в области V-дефекта эпитаксиальной пленки МЛЭ КРТ потенциалов (поверхностного потенциала) эпитаксиальных пленок CdxHg1-
xTe, выращенных методом молекулярно
 High-sensitive two-layer photoresistors based on р-CdxHg1-HGxTe with a converted near-surface layer based on р-Cd x Hg1–
xTe (x = 0.24−0.28) with a thin near-surface layer of n-type obtained by treatment
 Модули упругости твердых растворов CdxHg1–xТe ультразвука для монокристаллов CdxHg1–
xTe. Получены значения упругих модулей и температур Дебая для различных
 Влияние подсветки на адмиттансные характеристики МДП-структур на основе nBn со сверхрешеткой в барьерной областиВойцеховский, Александр Васильевич, 
Дзядух, Станислав Михайлович, 
Горн, Дмитрий Игоревич, 
Дворецкий, Сергей Алексеевич, 
Михайлов, Николай Николаевич (физик), 
Сидоров, Георгий Юрьевич, 
Якушев, Максим Витальевич  адмиттансные характеристики МДП-структуры, на основе nBn из Hg1-XCd
XTe, выращенных методом МЛЭ со сверхрешеткой