Контроль критически длинных цепей встроенных цифровых системРассматриваются
неисправности типа
задержки, которые способны влиять на корректность системы
Верхняя оценка ненадежности схем (в P2) при произвольных неисправностях элементов неисправности элементов статистически независимы. Показано, что любую булеву функцию можно реализовать схемой
Анализ и синтез маршевых тестов запоминающих устройств запоминающих ячеек, участвующих в
неисправности. Обосновывается необходимость синтеза маршевых тестов
Автоматизированный модуль для определения характеристик полупроводниковых элементов статические характеристики ряда полупроводниковых
радиоэлементов. Результаты экспериментов находятся в хорошем
Синтез частично программируемых схем, маскирующих логические неисправности элементовСинтез частично программируемых схем, маскирующих логические
неисправности элементов
Оценка искажения поведения логической схемы в присутствии неисправностиОценка искажения поведения логической схемы в присутствии
неисправности