Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

По вашему запросу найдено документов: 56765

Страница 15 из 5677

Методы получения и исследование физико-химических и магнитных свойств полупроводниковых монокристаллов соединений группы MⅡB2ⅢC4Ⅵ и твердых растворов на их основе : монография для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники и аспирантов

Многослойные токопроводящие пленки полупроводниковых приборов и интегральных микросхем использованы при изготовлении кремниевых полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. The stress

Оценка размеров топографических дефектов полупроводниковых кремниевых структурВлияние неплоскостности полупроводниковых пластин на характеристики изготавливаемых приборов

Разработка методов исследования математических моделей немарковских систем обслуживания с неограниченным числом приборов и непуассоновскими входящими потоками : диссертация на соискание ученой степени доктора физико-математических наук : 05.13.18. неограниченным числом приборов и непуассоновскими входящими потоками : диссертация на соискание ученой степени

Исследование системы с параллельным поступлением кратных заявок с повторным обращением и неограниченным числом обслуживающих приборов неограниченным числом обслуживающих приборов

Моделирование из первых принципов свойств графена, модифицированного атомами фтора.Создание современных полупроводниковых приборов требует внедрения новых материалов. Графен – один из них, вызывающий

Разработать экспериментальные методы и физико-математические модели для оценки температурных эффектов в полупроводниковых приборах при мощных импульсных электрических перегрузках : отчет о НИР (заключ.)Разработать экспериментальные методы и физико-математические модели для оценки температурных

Моделирование рассеяния электронов на ионизированной примеси в полупроводниках и полупроводниковых структурах методом Монте-Карло численном моделировании электрофизических свойств полупроводников и полупроводниковых структур методом

Топологически-ориентированный подход к выбору метода моделирования прозрачности гетероструктурных каналов наноэлектронных приборов наноэлектронных гетероструктурных приборов с поперечным транспортом на основе полупроводниковых сверхрешеток.

Корреляционный анализ в решении задачи поиска информативных параметров транзисторов большой мощностиДля индивидуального прогнозирования надёжности мощных полупроводниковых приборов необходимо знать

Страница 15 из 5677