Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

По вашему запросу найдено документов: 869

Страница 13 из 87

Физика низкоразмерных систем
Одноэлектронный транзистор
Влияние гамма-излучения на параметры различных транзисторных МОП-структур — элементов интегральных микросхем
Коршунов, Ф. П., Богатырев, Ю. В., Белоус, А. И., Шведов, С. В., Ластовский, С. Б., Кульгачев, В. И., Korshunov, F. P., Bogatyrev, Y. V., Belous, A. I., Shvedov, S. V., Lastovsky, S. B., Kulgachev, V. I.
Рассмотрено влияние гамма-излучения на параметры тестовых n-канальных транзисторных МОП
Модель диодов Шоттки с моп-канавочной структурой
Котов, В. С., Борисенко, В. Е.
Модель диодов Шоттки с моп-канавочной структурой
Исследование выходных характеристик МОП-транзисторов на основе кремния
Шляхтун, С. В., Черный, В. В.
Исследование выходных характеристик МОП-транзисторов на основе кремния
Моделирование паразитных туннельных токов в элементах флеш-памяти на основе короткоканальных МОП-транзисторов
Жевняк, О. Г.
Моделирование паразитных туннельных токов в элементах флеш-памяти на основе короткоканальных МОП-транзисторов
Моделирование влияния затворного напряжения на перенос электронов в короткоканальных моп-транзисторах
Жевняк, О. Г.
Моделирование влияния затворного напряжения на перенос электронов в короткоканальных моп-транзисторах
О квантовании энергии электронов в канале короткоканальных МОП-транзисторов
Жевняк, О. Г., Жевняк, Я. О.
О квантовании энергии электронов в канале короткоканальных МОП-транзисторов
Моделирование фотоотклика субмикронного КНИ-МОП-транзистора при воздействии пикосекундного лазерного излучения
Борздов, А. В., Борздов, В. М.
Моделирование фотоотклика субмикронного КНИ-МОП-транзистора при воздействии пикосекундного
Эволюция разностных спектров теплового сопротивления мощных МОП транзисторов КП723 и КП7209 при воздействии высокоинтенсивных термоударов
Бумай, Ю. А., Васьков, О. С., Нисс, В. С.
Эволюция разностных спектров теплового сопротивления мощных МОП транзисторов КП723 и КП7209 при
Разработка методик контроля деградации тока- стока МОП-транзисторов под влиянием «горячих» носителей
Жуков, А.П., Петлицкий, А.Н.
Разработка методик контроля деградации тока- стока МОП-транзисторов под влиянием «горячих

Страница 13 из 87

Фасеты

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core