По вашему запросу найдено документов: 39993
Страница 3 из 4000
Схемотехника. Лабораторный практикум : пособие разделы цифровой схемотехники от логических элементов до счетчиков и оперативных запоминающих устройств.
Технологические маршруты изготовления ИС : лаборатор. практикум по курсам «Маршрут. технология интегр. схем» и «Технолог. процессы микроэлектроники» для студентов специальностей I-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» и I-41 01 03 «Квант. информ. системы» всех форм обучения структурах, СВЧ ИС, БиКМОП ИС, запоминающих элементов электрически стираемых программируемых постоянных
Коррекций одиночных и двойных парных ошибок в запоминающих устройствах двойных парных ошибок в информации/ хранящейся в запоминающих устройствах (ЗУ). Используемый для этого
Определение показателей надежности кристаллов избыточных запоминающих устройствОдним из эффективных средств повышения надежности кристаллов полупроводниковых запоминающих
Оценка надежности избыточных запоминающих устройствРост степени интеграции полупроводниковых запоминающих устройств (ЗУ) привел к необходимости
Прогнозирующий расчет надежности избыточных БИС запоминающих устройствПредложена методика прогнозирующего расчета надежности избыточных БИС запоминающих устройств, в
Коррекция многократных ошибок в системах памяти на БИСнадежность запоминающих устройств
Коррекция одиночных и двойных парных ошибок в запоминающих устройствах двойных парных ошибок в информации, хранящейся в запоминающих устройствах (ЗУ). Используемый для этого
Неразрушающее тестирование запоминающих устройств на базе двойных адресных последовательностей запоминающих устройств и их основные недостатки, среди которых выделяют большую временную сложность и низкую
Подходы к тестированию запоминающих устройствТезис посвящен подходам к тестированию запоминающих устройств. В тексте рассмотрены основные модели
Страница 3 из 4000
Фасеты
Партнеры
Индексация
