По вашему запросу найдено документов: 40
Страница 3 из 4
Insights into the sputter-instigated valence plasmon oscillations in CIGSe thin filmsспектроскопическая эллипсометрия
Ab initio и экспериментальное исследование электронных и оптических свойств GaInS3спектральная эллипсометрия
ИССЛЕДОВАНИЕ ФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ УГЛЕРОДНЫХ АЛМАЗОПОДОБНЫХ ПОКРЫТИЙ, НАНЕСЁННЫХ МЕТОДОМ ИМПУЛЬСНОГО ЛАЗЕРНОГО ОСАЖДЕНИЯэллипсометрия
Spectral Ellipsometry as a Method of Investigation of Influence of Rapid Thermal Processing of Silicon Wafers on their Optical CharacteristicsСпектральная эллипсометрия как метод изучения влияния быстрой термообработки кремниевых пластин на
Оптические характеристики отожженных пленок титаната бария, сформированных золь-гель методомспектральная эллипсометрия
Учёт влияния естественного поверхностного слоя при исследовании кремниевых пластин методом спектральной эллипсометриисектральная эллипсометрия
Анализ методов исследования кристаллических структур, дифракция электронов и эллипсометрия же являются более узкопрофильными методами анализа.
Two-layer Model of Reflective Ferromagnetic Films in Terms of Magneto-optical Ellipsometry Studiesмагнито-оптическая эллипсометрия
Анализ эксплуатационной надежности резервируемых изделий микроэлектроники неразъемных соединений, в том числе: лазерная фотоакустическая микроскопия, лазерная эллипсометрия, визуальный
Страница 3 из 4
Фасеты
Партнеры
Индексация
