Изучение морфологии и фрактальный анализ начальных стадий роста вакуумных покрытий ПТФЭКазаченко, В. П.,
Киселевский, О. С.,
Егоров, А. И.,
Kazachenko, V. P.,
Kisilevskii, O. S.,
Egorov, A. I. В работе представлены результаты изучения методом
атомно-силовой микроскопии (ACM) морфо
Исследование морфологии поверхности тонких пленок диоксида гафния ионно-лучевым распылением металлической мишени с использованием метода
атомно-силовой микроскопии
Анализ зависимости качества продукции от поверхностных свойств бумаги и параметров печати атомно-силовой микроскопии. На сканирующем зондовом микроскопе Solver HV исследована шероховатость бумаги
Сенсорные слои полиметилметакрилата для емкостных датчиков анализа содержания катионов тяжелых металлов в водеСапсалёв, Д. В.,
Мельникова, Г. Б.,
Аксючиц, А. В.,
Толстая, Т. Н.,
Котов, Д. А.,
Чижик, С. А. анализа содержания тяжелых металлов в воде (на примере ионов Ni2+). Методом
атомно-силовой микроскопии
Полевые транзисторы на основе инновационных материалов с углеродными наполнителями сукцинамида хитозана открывает возможность создания более чувствительных и стабильных сенсоров. Метод
атомно АТОМНО СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ В АНАЛИЗЕ ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДЫХ ТЕЛАТОМНО СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ В АНАЛИЗЕ ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ