Методика  индивидуального  прогнозирования  постепенных  отказов  изделий   электронной техники методом имитационных воздействий

Боровиков, С. М.

Методика индивидуального прогнозирования постепенных отказов изделий электронной техники методом имитационных воздействий

Дата публикации: 2013

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T07:06:43Z

Аннотация:

Систематизирован метод имитационных воздействий в применении к индивидуальному прогнозированию постепенных отказов изделий электронной техники. На основе метода разработана методика прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов. Она позволяет по реакции функционального параметра конкретного экземпляра (транзистора) на имитационное воздействие в начальный момент времени спрогнозировать значение параметра для заданной будущей наработки и принять решение о надежности этого экземпляра по постепенному отказу для этой наработки.

Ключевые слова:
доклады БГУИР, изделия электронной техники, биполярные транзисторы, метод имитационных воздействий, индивидуальное прогнозирование значений параметра, прогнозирование постепенных отказов

Тип: Article