Внутренние элементы защиты интегральных схем от воздействия электростатических разрядов свойства защиты на базе
МОП-транзистора: n-
МОП транзистора с заземленным затвором (Grounded Gate NMOS
Анализ качества подзатворного диэлектрика МОП-структур по вольт-фарадным характеристикамОджаев, В. Б.,
Петлицкий, А. Н.,
Просолович, В. С.,
Филипеня, В. А.,
Шведов, С. В.,
Черный, В. В.,
Явид, В. Ю.,
Янковский, Ю. Н. Исследованы
МОП-транзисторы методом вольт-фарадных характеристик, изготов
ленных в разное время, но
Влияние гамма-излучения на МОП/КНИ-транзисторыБогатырев, Ю. В.,
Ластовский, С. Б.,
Сорока, С. А.,
Шведов, С. В.,
Огородников, Д. А.,
Bogatyrev, Yu. V,
Lastovsky, S. B.,
Soroka, S. A.,
Shwedov, S. V.,
Ogorodnikov, D. A. МОП/КНИ-транзисторов с различными конструктивно-технологическими
особенностями и электрическими
Электрическая модель 90-нанометрового МОП-транзистораБоровик, А. М.,
Ханько, В. Т.,
Стемпицкий, В. Р.,
Borovik, A. M.,
Khanko, V. T.,
Stempitsky, V. R. SIM2 для
МОП-транзисторов стандартной конструкции,
изготовленных по технологии, обеспечивающей
Проектирование IGBT- прибора высокого быстродействия транзистора, так и
МОП-
транзистора – составляющих элементов IGBT-прибора. Показано, что на
Гетеропереходный биполярный транзистор на основе GaAsГетеропереходный биполярный
транзистор на основе GaAs