По вашему запросу найдено документов: 404
Страница 1 из 41
Неразрушающее тестирование оперативных запоминающих устройств на основе локально-симметричных маршевых алгоритмовДиссертационная работа посвящена исследованиям в области обеспечения надежности схем ОЗУ. Целью
Использование многократных тестов с изменяемым начальным состояниям для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУ начальным состоянием ячеек
памяти для псевдо-исчерпывающего тестирования ОЗУ. Определено среднее
Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ встроенных ОЗУ, которая позволит выполнять тестирование цифрового устройства на наличие физических дефектов
Обнаружение четырехкратных ошибок ОЗУ средствами встроенного текущего контроляПредлагается новый подход для обнаружения четырехкратных ошибок в ОЗУ с помощью
метода
Использование многократных тестов для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУИспользование многократных тестов для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУ
Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ встраиваемых систем запоминающих устройств (ОЗУ) встраиваемых систем. Обосновывается использование многократных тестов ОЗУ с
Повышение достоверности текущего контроля ОЗУ текущего контроля ОЗУ — адаптивного сигнатурного анализа (АСА). Ис-
следуются способы повышения
Анализ итеративного алгоритма неразрушающего тестирования ОЗУ устройств (ОЗУ) инвертируются ячейки с адресами, выделенными по маске,
которая формируется исходя из номера
Симметричное неразрушающее тестирование ОЗУ схем ОЗУ. Приведена оценка эффективности использования предлагаемых
методов в сравнении с
Определение характеристик распределения дефектов в микросхемах полупроводниковых ОЗУОпределение характеристик распределения дефектов в микросхемах полупроводниковых ОЗУ
Страница 1 из 41
Фасеты
Партнеры
Индексация
