Использование многократных тестов с изменяемым начальным состояниям для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУ

Леванцевич, В. А.

Использование многократных тестов с изменяемым начальным состояниям для псевдоисчерпывающего тестирования ОЗУ

Дата публикации: 2019

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:44:26Z

Аннотация:

Исследуется возможность использования многократных вероятностных тестов с изменяемым начальным состоянием ячеек памяти для псевдо-исчерпывающего тестирования ОЗУ. Определено среднее число итераций многократного теста для исчерпывающего тестирования заданного количества ячеек памяти.

Ключевые слова:
материалы конференций, тестирование ОЗУ, псевдо-исчерпывающие тесты

Тип: Статья