Материалов:
1 081 645

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

По вашему запросу найдено документов: 839759

Страница 1 из 83976

Выявление дефектов интегральной микросхемы (ИМС) посредством ионно-лучевого травления
Кабак, Т. В., Петлицкая, Т. В.
МОП - конденсаторы интегральных схем на основе пентаоксида тантала
Петлицкая, Т. В., Petlitskaya, Т. V.
МОП-конденсаторы повышенной емкости для субмикронных СБИС
Петлицкая, Т. В., Petlitzkaya, T.
свойства. Установлена зависимость изменения эффективного встроенного заряда в пленке Ta2O5 от радиуса
ЭФФЕКТ КОНДО И ОБЪЁМНЫЙ КОЛЛАПС В ЦЕРИИ
Ревинский, А.Ф., Петлицкая, Т.С.
модификациями. Среди множества гипотез относительно объёмного коллапса в церии можно выделить гипотезу, согласно
Анализ геометрических параметров контактов кремниевой подложки и алюминиевой шины в интегральных микросхемах (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком
Кабак, Т. В., Петлицкая, Т. В.
Анализ геометрических параметров контактов кремниевой подложки и алюминиевой шины в интегральных
Анализ причин неработоспособности кристаллов Ethernet контроллера 1990ВГ3Т
Троицкий, В. Ю., Орешков, М. В., Захарченко, А. А., Трепалин, А. П., Петлицкая, Т. В., Филипеня, В. А.
неработоспособности кристаллов интегральной микросхемы (ИМС) Ethernet контроллера 1990ВГ3Т с применением неразрушающих
Синтез прозрачных проводящих пленок и столбчатых структур на основе оксида цинка
Семченко, А.В., Гайшун, В.Е., Коваленко, Д.Л., Сидский, В.В., Тюленкова, О.И., Солодуха, В.А., Ковальчук, Н.С., Петлицкий, А.Н., Петлицкая, Т.В., Жигулин, Д.В.
Анализ дефектов интегральных схем с использованием атомно-силового микроскопа
Пилипенко, В. А., Солодуха, В. А., Шведов, С. В., Петлицкий, А. Н., Петлицкая, Т. В., Шабалина, С. В., Устименк, Д. С.
В работе представлены результаты комплексного анализа дефекта межслойного диэлектрика микросхемы
Использование четырехзондового наноманипулятора для измерения вольтамперной характеристики биполярного N-P-N -транзистора
Пилипенко, В. А., Солодуха, В. А., Петлицкий, А. Н., Шведов, С. В., Панфиленко, А. К., Петлицкая, Т. В., Филипеня, В. А., Жигулин, Д. В.
В работе представлены результаты по получению вольтамперных характеристик (ВАХ) биполярного n
Установка лазерного геттерирования кремниевых пластин
Вечер, Д. В., Пилипенко, В. А., Горушко, В. А., Сякерский, В. С., Петлицкая, Т. В., Vecher, D. V., Pilipenko, V. A., Gorushko, V. A., Syakersky, V. S., Petlitskaya, T. A.

Страница 1 из 83976

Фасеты

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core