Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

По вашему запросу найдено документов: 56765

Страница 10 из 5677

Физическое моделирование термоактивационного пробоя в полупроводниковых приборах
Колосницын, Б. С., Манкевич, И. А.
В работе рассматривается новое направление связанное с механизмами пробоя полупроводниковых
Влияние теплового режима на надежность и параметры полупроводниковых и интегральных схем приборов
Атаев, А., Ataev, A.
Предложены системы охлаждения полупроводниковых интегральных схем с высокой степенью
Стандартные методы измерения теплового сопротивления полупроводниковых приборов
Моковский, В. А., Горчанин, Д. И., Володин, И. А.
методов измерения теплового сопротивления в полупроводниковых приборах.
Испытание и исследование полупроводниковых приборов и элементов интегральных схем : лаборатор. практикум по курсу «Полупроводниковые приборы и элементы интегр. микросхем» для студентов специальностей 1-41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы», 1-41 01 03 «Квант. информ. системы» всех форм обучения
Гранько, С. В., Дворников, О. В.
полупроводниковых приборов. Состоит из четырех лабораторных работ. В каждой даны описания методик измерения
Проблема отвода тепла силовых полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Гармилин, Е. В., Рыляков, А. В., Герман, Е. В., Harmilin, Y. V., Ryliakou, A. V., Herman, Y. V.
В работе рассмотрена проблема отвода тепла полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Использование температуры в качестве имитационного фактора при прогнозировании постепенных отказов полупроводниковых приборов
Боровиков, С. М., Бересневич, А. И., Borovikov, S. M., Berasnevich, A. I.
приборов методом имитационных воздействий.
Конструкция металлокомпозиционной заготовки для плат полупроводниковых приборов
Соколов, Ю. В., Поболь, И. Л., Паршуто, А. А., Томило, В. А., Паршуто, А. Э., Хлебцевич, В. А., Багаев, С. И.
Конструкция металлокомпозиционной заготовки для плат полупроводниковых приборов
Сравнение методов T3Ster и тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии для исследования структуры внутреннего теплового сопротивления полупроводниковых приборов
Бумай, Ю. А., Васьков, О. С., Нисс, В. С., Солодуха, В. А., Петлицкий, А. Н.
структуры внутреннего теплового сопротивления полупроводниковых приборов
Материал проводящего покрытия полупроводниковых приборов и интегральных схем
Достанко, А. П., Савицкий, Е. М., Полякова, В. П., Чистяков, Ю. Д., Баранов, В. В., Горина, Н. Б., Королев, Н. А.
Материал проводящего покрытия полупроводниковых приборов и интегральных схем
Принципы моделирования информативных параметров полупроводниковых приборов
Боровиков, С. М., Карнаушенко, А. В., Зорин, Д. В., Borovikov, S. M., Karnaushenko, A. V., Zorin, D. V.
Принципы моделирования информативных параметров полупроводниковых приборов

Страница 10 из 5677

Фасеты

Партнеры

КФУ
ТГУ
Elpub
СФУ
Webpublishers

Индексация

BASE
WorldCat
OpenAIRE
EDS
core