В работе предложена методика исследования фотоэлектрических процессов на поверхности диэлектриков с использованием электрометрического зонда в совокупности с дополнительным внешним оптическим воздействием в ультрафиолетовом спектре. Приведена конструкция осветителя, обеспечивающая механическое сопряжение с существующей измерительной системой картирования пространственного распределения поверхностного электростатического потенциала.