Эллипсометрия тонких двухслойных покрытий на металлической подложке - «Национальный агрегатор открытых репозиториев российских университетов» (НОРА)

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
761 409

расширенный поиск

Эллипсометрия тонких двухслойных покрытий на металлической подложке

Рыбалка, А.И., Шкляревский, И.Н.

Дата публикации: 1973

Дата публикации в реестре: 2023-11-01T13:12:29Z

Ключевые слова:
металлическая подложка, двухслойное покрытие, эллипсометрия, амплитуда

Тип: Article

Права: open access

Связанные документы (рекомендация CORE)