Применение многопортового S-параметрического анализа в реверс-инжиниринге интегральных схем для детектирования скрытых функциональных возможностей и аномалий в передаче сигналов

Батыргалиев, А. Б.; Молганов, А. А.

Применение многопортового S-параметрического анализа в реверс-инжиниринге интегральных схем для детектирования скрытых функциональных возможностей и аномалий в передаче сигналов

Дата публикации: 2025

Дата публикации в реестре: 2025-05-27T12:47:22Z

Аннотация:

Процесс проектирования интегральных микросхем в нынешнее время сопряжен с определенными технологическими нормами суть которых заключается в уменьшении подаваемой тока, уменьшении расстояния между структурными элементами и увеличения вычислительных мощностей на единицу площади. В связи с этим проведение инженерно-технического анализа на предмет наличия недекларированных возможностей представляется огромной проблемой как с технической точки зрения, так и с юридической – ввиду отсутствия конструкторской документации на интегральную микросхему. Интегральные микросхемы предназначенные для передачи информации с помощью радиочастотных структур имеют особое топологическое строение и поэтому реверс-инжиниринг данных микросхем затруднен из-за наличия фильтров и других помех блокирующих частей. Применение многопортового S-параметрического анализа позволяет провести топологический анализ скрытых цепей и портов, определить скрытые режимы работы и паразитных излучений.

Ключевые слова:
материалы конференций, защита информации, интегральные микросхемы, S-параметры, техническая защита информации, реверс-инжиниринг, печатные платы, инвазивные методы анализа, неинвазивные методы анализа

Тип: Article