Приводятся экспериментальные результаты, подтверждающие возможность использования тока коллектора или
напряжения коллектор–эмиттер в качестве имитационных факторов в задачах индивидуального прогнозирования парамет-
ров и, следовательно, возможных постепенных отказов биполярных транзисторов.