Проведены исследования топографии поверхности, кристаллической структуры пленок,
поликристаллического кремния, легированного германием, полученных разложением смеси
моносилан – моногерман – водород. Изменение структуры Ge и SiGe-кластеров анализировалось на основании данных спектроскопии комбинационного рассеяния света. Также проанализированы зависимости роста пленок от полного давления в реакторе и парциального
давления моносилана.