Дифракция электромагнитных волн на слоистых киральных структурах

Демидчик, В. И.

Дифракция электромагнитных волн на слоистых киральных структурах

Дата публикации: 2014

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T07:05:27Z

Аннотация:

Предложена методика исследования композитных структур на основе проводящих включений в виде тонких проводников произвольной геометрии. Рассмотрено влияние геометрии включений и материальных параметров, характеризующих диэлектрическую матрицу и включения, на отражающие и преломляющие свойства слоя кирального композита.

Ключевые слова:
материалы конференций, композиционные материалы, диэлектрическая матрица, тонкие проводники, проводящие включения

Тип: Article