Оценка характеристик кристаллов большой толщины с помощью излучения в них быстрых электронов

Бакланов, Д. А.; Внуков, И. Е.; Жандармов, Ю. В.; Лактионова, С. А.; Шатохин, Р. А.

Оценка характеристик кристаллов большой толщины с помощью излучения в них быстрых электронов

Бакланов, Д. А., Внуков, И. Е., Жандармов, Ю. В., Лактионова, С. А., Шатохин, Р. А.

Дата публикации: 2010

Дата публикации в реестре: 2020-02-28T09:56:00Z

Аннотация:

Анализ зависимости характеристик излучения, возникающего при прохождении через кристалл быстрых электронов, в зависимости от качества внутренней структуры образца. Обсуждение способов измерения мозаичности кристаллов, размеров микроблоков и посторонних включений по характеристикам регистрируемого излучения

Ключевые слова:
физика, кристаллография, кристаллы, излучение, быстрые электроны, мозаичность, выход излучения, каналирование, микроструктура, микроблок

Тип: Article