The waveguide method for measuring parameters of the surface layers - «Национальный агрегатор открытых репозиториев российских университетов» (НОРА)

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
596 024

расширенный поиск

The waveguide method for measuring parameters of the surface layers

Danilenko S.S., Osovitskii A.N.

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T14:35:58Z

Аннотация:

Ключевые слова:
High sensitivity, Imaginary parts, Mean square deviation, Measuring parameters, Near surface regions, Scattering and absorption, Surface layers, Waveguide systems, Surface roughness, Waveguides

Тип: Article

Права: open access

Источник: EPJ Applied Physics

Связанные документы (рекомендация CORE)