A high performance scan flip-flop design for serial and mixed mode scan test

Ahlawat, Satyadev; Matrosova, Anjela Yu.; Singh, Virendra; Tudu, Jaynarayan

A high performance scan flip-flop design for serial and mixed mode scan test

Ahlawat, Satyadev, Matrosova, Anjela Yu., Singh, Virendra, Tudu, Jaynarayan

Дата публикации: 2016

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T19:01:03Z

Ключевые слова:
триггеры, мультиплексоры, сканирование

Тип: статьи в сборниках

Источник: 2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 4-6 July 2016, Hotel Eden Roc, Sant Feliu de Guixols, Catalunya, Spain. [S. l.], 2016. P. 233-238

A high performance scan flip-flop design for serial and mixed mode scan test

Связанные документы (рекомендация CORE)

Новости проекта

Новости

Партнеры

Индексация