Electron mobility-lifetime and resistivity mapping of GaAs:Cr wafers - «Национальный агрегатор открытых репозиториев российских университетов» (НОРА)

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
596 024

расширенный поиск

Electron mobility-lifetime and resistivity mapping of GaAs:Cr wafers

Chsherbakov, I., Lozinskaya, A. D., Mihaylov, T., Novikov, Vladimir A., Shemeryankina, A., Tolbanov, Oleg P., Tyazhev, Anton V., Zarubin, A. N., Kolesnikova, I.

Дата публикации: 2017

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T19:01:30Z

Аннотация:

Ключевые слова:
детекторы рентгеновского излучения, удельное сопротивление, арсенид галлия, температура отжига

Тип: статьи в журналах

Источник: Journal of instrumentation : electronic journal. 2017. Vol. 12, № 2. P. C02016 (1-8)

Связанные документы (рекомендация CORE)