Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем

Попков, Кирилл Андреевич

Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем

Дата публикации: 2016

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T19:22:25Z

Аннотация:

Получены экспоненциальные нижние оценки длин следующих тестов: 1) полных диагностических тестов при однотипных и произвольных константных неисправностях на входах схем и 2) полных диагностических тестов для схем из функциональных элементов в некоторых базисах при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.

Тип: статьи в журналах

Источник: Прикладная дискретная математика. 2016. № 4. С. 65-73