Рентгенодифрактометрические исследования синтетического алмаза, облегченного электронами

Шишонок, Елена Михайловна; Лугин, Валерий Геннадьевич

Развиты представления о радиационной стойкости синтетического алмаза (СА) из исследований рентгенодифрактометрических (РД) спектров СА в форме порошков АС2 различной зернистости с разной прочностью, синтезированных в одном синтезе в каталитической системе Ni – Mn, облученных электронами с энергией 6,5 МэВ дозами D = 2 · 1019 и 8 · 1019 см–2. РД-спектры СА получены на высокоразрешающем дифрактометре D8 Аdvance Bruker AXS с использованием опций вращения образца, малой скорости регистрации РД-спектров (0,01°/мин), а также высокой точности определения положения их линий (?? = ±0,0001°). Установлено, что в соответствии с существующими представлениями о расщеплении линий РД-спектра кристаллического объекта с искаженной кубической кристаллической структурой, кристаллическая решетка СА в форме порошков является искаженной, аналогично cBN, активированному примесями. Выявлено, что облучение СА в форме порошков дозой D = 2 · 1019 см–2 приводит к совершенствованию кристаллической решетки СА в корреляции с исходной прочностью СА: симметрия искажений кристаллической решетки СА повышается, а их абсолютные значения уменьшаются. Увеличение дозы облучения до D = 8 · 1019 см–2 вызывает понижение симметрии искажений кристаллической решетки СА и увеличение их величины. Эффект сопровождается уменьшением параметра кристаллической решетки СА, что является признаком разупрочнения и разупорядочения его кристаллической структуры. Полученные новые результаты являются основой метода неразрушающего контроля прочности СА любых морфологических форм.

Рентгенодифрактометрические исследования синтетического алмаза, облегченного электронами

Связанные документы (рекомендация CORE)

Новости проекта

Новости

Партнеры

Индексация