Материалов:
875 618

Репозиториев:
30

Авторов:
596 024

Исследование эпитаксиальных гетерослоев GeSi/Si методом рентгеновской дифрактометрии

Дата публикации: 2018

Дата публикации в реестре: 2020-03-03T19:58:23Z

Тип: статьи в сборниках

Источник: Физика твердого тела : сборник материалов XVI Российской научной студенческой конференции, Томск, 17–20 апреля 2018 г.. Томск, 2018. С. 205-206


Связанные документы (рекомендация CORE)