Особенности разрушения и структура поверхностных слоев молибдена и металлических материалов при взаимном сухом скольжении под электрическим током

Алеутдинова, Марина Ивановна; Фадин, Виктор Вениаминович

Особенности разрушения и структура поверхностных слоев молибдена и металлических материалов при взаимном сухом скольжении под электрическим током

Алеутдинова, Марина Ивановна, Фадин, Виктор Вениаминович

Дата публикации: 2020

Дата публикации в реестре: 2020-10-01T12:54:08Z

Аннотация:

Рассмотрена возможность увеличения электропроводности сухого скользящего электроконтакта с плотностью тока более 100 А/см2 путём применения молибденового контртела. Показано, что скольжение вольфрама и спечённого металлического композита по молибдену характеризуется низкой электропроводностью контакта и низкой износостойкостью. Изменение давления в интервале 0.02–0.13 МПа и скорости скольжения в интервале 5–10 м/с не приводило к существенному увеличению электропроводности и износостойкости контакта. Рентгеновским анализом было показано отсутствие равновесных окислов на поверхностях скольжения молибдена и вольфрама. Наблюдалось появление неравновесных химических соединений в процессе трения. Установлено образование слоёв переноса и их разрушение вследствие адгезии в контакте. Релаксация напряжений, происходящая по механизму малоцикловой усталости в поверхностном слое, рассматривается как основная причина разрушения поверхностного слоя и высокого износа. Данные о структуре поверхностных слоёв и неудовлетворительные характеристики контакта позволили сделать вывод о невозможности значительного улучшения параметров скольжения с токосъёмом по молибдену и нецелесообразности его применения в качестве контртела для этих условий.

Ключевые слова:
сухое скольжение, поверхностные слои, скользящие электрические контакты, электропроводность, поверхностное разрушение, электрические контакты, молибден, вольфрам, спеченные металлические композиционные материалы

Тип: статьи в журналах

Права: open access

Источник: Известия высших учебных заведений. Физика. 2020. Т. 63, № 7. С. 47-51