Субмикроструктура и характеристика ближнего атомного порядка аморфного поверхностного сплава на основе Ti-Ni-Тa-Zr, сформированного на поверхности TiNi электронно-пучковым способом

Мейснер, Людмила Леонидовна; Нейман, Алексей Александрович; Яковлев, Евгений Витальевич; Семин, Виктор Олегович

Субмикроструктура и характеристика ближнего атомного порядка аморфного поверхностного сплава на основе Ti-Ni-Тa-Zr, сформированного на поверхности TiNi электронно-пучковым способом

Мейснер, Людмила Леонидовна, Нейман, Алексей Александрович, Яковлев, Евгений Витальевич, Семин, Виктор Олегович

Дата публикации: 2020

Дата публикации в реестре: 2020-12-02T09:53:59Z

Аннотация:

Представлены результаты исследований субмикроструктуры и топологического ближнего атомного порядка аморфного поверхностного сплава на основе Ti−Ni−Тa−Zr, сформированного аддитивным способом на основе импульсного электронно-пучкового жидкофазного перемешивания систем “пленка Ti70Ta30(50 нм)/пленка Zr(100 нм)/подложка из TiNi”. Показано, что в поперечном сечении поверхностного сплава сформировалась аморфная структура толщиной 2 мкм с градиентным изменением химического состава. Обнаружено, что переходный подслой к TiNi-подложке характеризуется нанокомпозитной кристаллической структурой с преимущественным содержанием интерметаллида Ti2Ni. С применением метода построения функций радиального распределения атомов по данным электронных нанодифракций выполнено исследование топологического ближнего атомного порядка в аморфном слое. Показано, что атомная структура в аморфном поверхностном Ti−Ni−Тa−Zr-сплаве имеет кластерную природу, структурный мотив которой может быть описан в виде суперпозиции соединенных между собой общими гранями координационных многогранников, соответствующих различным кристаллическим фазам девитрификации.

Ключевые слова:
электронно-пучковая обработка, обработка поверхности, подложки, поверхностные сплавы, аморфные структуры, функция распределения, радиальное распределение, ближний порядок в сплавах

Тип: статьи в журналах

Источник: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2020. № 4. С. 84-100