Дефектоскопия полимерных композиционных материалов методами зондовой электрометрии

Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Свистун, А. И.; Жарин, А. Л.; Самарина, А. В.

Дефектоскопия полимерных композиционных материалов методами зондовой электрометрии

Пантелеев, К. В., Тявловский, А. К., Свистун, А. И., Жарин, А. Л., Самарина, А. В.

Дата публикации: 2016

Дата публикации в реестре: 2021-05-18T10:55:08Z

Аннотация:

В работе приводятся методические и экспериментальные результаты исследований влияния светового воздействия на изменение электронной подсистемы полимерных композиционных материалов. В качестве средств контроля применен сканирующий зонд Кельвина. Методика контроля основана на анализе неоднородности электропотенциального профиля и пространственного распределения фото-ЭДС.

Тип: Working Paper