Frequency bistability in nonlinear thin-film interferometer - «Национальный агрегатор открытых репозиториев российских университетов» (НОРА)

Материалов:
1 005 012

Репозиториев:
30

Авторов:
596 024

расширенный поиск

Frequency bistability in nonlinear thin-film interferometer

Glasunova, E. V., Yurevich, V. A.

Дата публикации: 2007

Дата публикации в реестре: 2021-05-18T14:05:44Z

Аннотация:

Ключевые слова:
Optical bistability, resonant subsurface layer, thin-film cavity

Тип: Article

Связанные документы (рекомендация CORE)