Причины повреждения металлизации интегральных схем в условиях воздействия токов повышенной плотности

Врабий, Э. М.; Дегалевич, Д. А.; Пискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.

Причины повреждения металлизации интегральных схем в условиях воздействия токов повышенной плотности

Врабий, Э. М., Дегалевич, Д. А., Пискун, Г. А., Алексеев, В. Ф.

Дата публикации: 2015

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:29:15Z

Аннотация:

Изучаются причины повреждения металлизации интегральных схем (ИС) в условиях воздействия токов повышенной плотности, которые характерны для разрядов статического электричества.

Ключевые слова:
публикации ученых, повреждение, отказ, металлизация, электродиффузия, надежность

Тип: Article