Представлены результаты исследований температурных зависимостей коэффициентов
умножения темнового тока и фототока для кремниевых фотоэлектронных умножителей. Показано,
в какой степени снижение температуры влияет на изменение коэффициента усиления фототока
и приводит к уменьшению последовательного сопротивления микроплазменного пробоя. The investigations results of the temperature dependences of the multiplication coefficients of the
dark current and photocurrent for silicon photoelectric multipliers are presented. It is shown to what extent
the decrease in temperature effects to the change in the photocurrent gain and leads to a decrease of the series
resistance of the microplasma breakdown.