Параметризация АСМ-изображений на основе триангуляции

Ковшик, В. А.; Давыдова, Н. С.; Цветков, В. Ю.

Параметризация АСМ-изображений на основе триангуляции

Ковшик, В. А., Давыдова, Н. С., Цветков, В. Ю.

Дата публикации: 2019

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:45:15Z

Аннотация:

Разработан алгоритм разбиения топографического пространства на симплексы на основе триангуляции для параметризации изображений атомно-силовой микроскопии (АСМ-изображений). Алгоритм обеспечивает формирование геометрического описания областей АСМ-изображений, соответствующих элементам поверхностей неорганических материалов. Исследована устойчивость алгоритма к изменению яркости и контраста АСМ-изображения.An algorithm has been developed for splitting topographic space into simplexes based on triangulation for parametrization of atomic force microscopy images (AFM-images). The algorithm provides the formation of a geometric description of AFM-images areas corresponding to the elements of the surfaces of inorganic materials. The stability of the algorithm to changes in the brightness and contrast of the AFM-image is investigated.

Ключевые слова:
материалы конференций, АСМ-изображения, триангуляция, параметризация, AFM-images, triangulation, parameterization

Тип: Статья