Методы оценки радиационной стойкости элементной  базы биполярных интегральных микросхем

Стельмахов, Р. В.

Методы оценки радиационной стойкости элементной базы биполярных интегральных микросхем

Дата публикации: 2019

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:46:18Z

Аннотация:

Целью работы является разработка расчетно-экспериментальных методов оценки стойкости биполярных интегральных микросхем к воздействию ионизирующих излучений.

Ключевые слова:
материалы конференций, интегральные микросхемы, радиационная стойкость

Тип: Статья