Методы исследования интегральных микросхем

Коротыш, И. Г.

Методы исследования интегральных микросхем

Дата публикации: 2019

Дата публикации в реестре: 2021-08-05T17:47:28Z

Аннотация:

Современный мир трудно представить без электронных устройств, в основе которых находятся интегральные микросхемы, от качества и работы которых зависит работоспособность, надёжность, энергопотребление, тепловыделение и другие характеристики устройств. Для того чтобы обеспечить высокую степень безотказности ИМС необходимо проводить соответствующий контроль качества, а также проводить анализ и поиски причин отказа микросхем для посредствующих улучшений и исправлений технологического процесса их изготовления.

Ключевые слова:
материалы конференций, компьютерная микротомография, интегральные микросхемы

Тип: Статья